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mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序：

更新時間:2025-07-02

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試分析與解決方法

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。

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分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試

分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生

更新時間:2025-07-02

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解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試

解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.

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MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題

mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。

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MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏初始化指令問題

mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。

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MIPI眼圖數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程

mipi眼圖數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。

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EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試

emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試電源紋波測試

相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試

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電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試

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控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。

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數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試

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CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試，眼圖測試

clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。

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數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。

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I復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試

復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。

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EMMC 上電時序測試電源紋波測試

emmc 上電時序測試電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。

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EMMC 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc 時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。

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EMMC 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

emmc 控制信號測試控制信號過沖測試控制信號高低電平測試

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EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。

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EMMC4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

emmc4 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。

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Emmc5 上電時序測試電源紋波測試時鐘測試數(shù)據(jù)信號測試

相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。

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EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。

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EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試

emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。

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EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試

emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。

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7405ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭儀器資訊

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ESD測試儀Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實驗室，DDR測試，時序測試，紋波測試，抖動測試

misenbo 硬件開放實驗室開放實驗室硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器儀器資訊

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PCIE2.0 3.0 驗證調(diào)試和一致性測試解決方案

遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常

更新時間:2025-07-02

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PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試

cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。

更新時間:2025-07-02

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HCLD-3高壓漏電檢測儀

hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng)，配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗中可采用兩種終點判斷法來確定試驗終點。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超

更新時間:2025-07-02

該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗儀器有限公司

BC302流動測震儀

bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器，具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.

更新時間:2025-07-02

該公司產(chǎn)品分類：寶應(yīng)振動儀器廠

DX200GHD金屬導(dǎo)體電阻率測試儀

加工定制：是類型：指針式電阻測量儀表品牌：yaos堯順型號：dx200ghd測量范圍：10-5--105ω（mω）電　源：220±10%測試電壓：2 mv、20 mv、200 mv、2v（v）精度：0.1%重量：8.5（kg）尺　寸：345mm*480mm*145mm規(guī)格：φ30x180

更新時間:2025-07-02

該公司產(chǎn)品分類：西安宏鵠檢測儀器有限公司

JT－1A漏水探測儀高靈敏智能型

jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。

更新時間:2025-07-02

該公司產(chǎn)品分類：揚州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司

JT－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型

jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水靈音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。

更新時間:2025-07-02

該公司產(chǎn)品分類：揚州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司

JT－SC01手持式地下管道漏水檢測儀

jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。

更新時間:2025-07-02

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JT-3Ax管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀

jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進(jìn)技術(shù)，其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進(jìn)測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準(zhǔn)確定位泄漏點的位置。

更新時間:2025-07-02

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JT-1A供應(yīng)智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。

更新時間:2025-07-02

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JT-SC01供應(yīng)地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑�，此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號，通過主機進(jìn)行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源

更新時間:2025-07-02

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JT-5000供應(yīng)數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀

jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水錄音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關(guān)，大容量鋰離子充電電池。

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JT-3000供應(yīng)管道測漏儀/漏水檢測儀/數(shù)字式漏水檢測儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當(dāng)管道內(nèi)流體在壓力下逸出時，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質(zhì)傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。

更新時間:2025-07-02

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JT-2000供應(yīng)管道漏水檢測儀/自來水管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀

jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設(shè)計采用全金屬外殼，堅固耐用。

更新時間:2025-07-02

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JT-TLD電子式聽漏棒

揚州捷通供水技術(shù)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質(zhì)上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進(jìn)的集成性上。

更新時間:2025-07-02

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HA405-DPA-SC-S8/120梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）

梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）硬件開放實驗室開放實驗室儀器租賃

更新時間:2025-07-02

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PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送物理層一致性測試

pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。

更新時間:2025-07-02

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