透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因,其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力,引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。wyl-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補償原理,通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級別,是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器,也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。
更新時間:2025-07-16