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HCDJC-150KV電壓擊穿試驗儀華測 HCDJC-150KV 絕緣漆擊穿電壓試驗機

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準確的采集處理，支持數(shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

該公司產(chǎn)品分類：北京華測試驗儀器有限公司

HCDJC-150KV華測儀器耐電壓時間測試電壓擊穿試驗儀試驗電壓150KV

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準確的采集處理，支持數(shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV華測儀器絕緣材料電氣強度試驗儀 HCDJC-150KV 高精度電壓擊穿試驗儀

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準確的采集處理，支持數(shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCDJC-150KV塑料薄膜電壓擊穿試驗儀150KV 華測儀器多級循環(huán)采集按需定制

hcdjc系列電壓擊穿試驗儀采用計算機控制，通過人機對話方式，完成對絕緣介質的工頻電壓擊穿，可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速準確的采集處理，支持數(shù)據(jù)存儲、顯示、打印一體化功能。

更新時間:2025-07-04

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HCQD-4華測 HCQD-4 電熱老化試驗平臺測量橡膠塑料材料耐腐蝕性耐老化性穩(wěn)定性

面對材料因結露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

更新時間:2025-07-04

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HCQD-4華測 HCQD-4 耐腐蝕老化試驗平臺評估老化腐蝕現(xiàn)象絕緣電阻劣化

面對材料因結露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

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HCQD-4華測 HCQD-4 多通道耐腐蝕老化試驗平臺防反水加濕水路系統(tǒng) 可定制

面對材料因結露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

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HCQD-4華測 HCQD-4 電熱老化試驗平臺實時監(jiān)控測試動態(tài)補水設計

面對材料因結露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不佳現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象，設備可有效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關問題。試驗系統(tǒng)能夠模擬各式工業(yè)制品、零部件以及原材料在實際生產(chǎn)、使用、儲存和運輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、溫度變化速度快、溫度循環(huán)等環(huán)境因素中受的影響，以測試其功能、性能及壽命的完整性和牢靠性。

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HCYD華測高溫壓電系數(shù)測試儀評估壓電材料在高低溫環(huán)境下特性

hcyd高溫壓電系數(shù)測試儀采用fpga數(shù)字技術為激振器提供穩(wěn)定的測試頻率，配合聲學與振動公司b&k生產(chǎn)的激振器作為振源，相對傳統(tǒng)的d33測量儀測量精度更高，測量量程更寬，可靠性更高，操作更簡單。儀器可以直接分析得出樣品壓電常數(shù)d33隨溫度變化的壓電溫譜圖，可廣泛用于壓電材料（壓電陶瓷、高分子）、鐵電材料以及相關器件性能。

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CGO-4華測CGO-4 4英寸真空探針臺測試鐵電陶瓷材料按需定制

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

更新時間:2025-07-04

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CGO-4華測CGO-4 4英寸真空探針臺測試鐵電陶瓷材料按需定制

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

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CGO-4顯微鏡真空探針臺華測 2英寸樣品臺觀察窗口探針設備

低溫真空探針臺是一種輔助執(zhí)行機構，測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺（chuck）上，在顯微鏡配合下，x-y移動器件，找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉探針座上的x-y-z的三向旋鈕，控制前部探針（射頻或直流探針），準確扎到被測點，從而使其訊號線與外部測試機導通，通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。

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HC-RD-1100華測儀器塞貝克系數(shù)電阻率測試儀塞貝克系數(shù)測量范圍1～2500μV/K

華測儀器的hc-rd-1100可以同時測定樣品在rt至1500°c溫度范圍內的塞貝克系數(shù)和電阻率。熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應熱電電壓的大小，單位是v/k。

更新時間:2025-07-04

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Huace-650T華測 Huace-650T 工業(yè)級高低溫冷熱臺智能溫控滿足各種測試需求

huace650t高低溫冷熱臺（可定制）由華測儀器多位工程師多年開發(fā)，冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作站、數(shù)字原表設備進行功能材料電學的相關測試，采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導線的影響，同時電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。

更新時間:2025-07-04

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TY-2000D上海統(tǒng)業(yè) T&Y-2000D精密型點膠機

ty-2000d單液定量點膠機介紹：ty-2000d點膠機，也稱定量點膠機，單液點膠機。外型精致美觀，可節(jié)省點膠機的放置空間。點膠時間的控制采用數(shù)字形式顯示，可非常直觀地控制其出膠量。適用于各種工業(yè)流體氣動點膠應用，具控制稀釋流體用的真空回吸功能，有定時操作模式和連續(xù)操作模式二種點膠模式；出膠速度快，一用就會，操作簡單。

更新時間:2025-07-04