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輪廓儀產(chǎn)品及廠家

大面積快速掃描輪廓儀
nanofocus μsprint topographer是一個獨立的桌面3d測量系統(tǒng)。機臺上的x.y軸和3d傳感器可以提供必不可少的高精度數(shù)據(jù)采集的穩(wěn)定性。μsprint設(shè)備包含有控制柜、電子設(shè)備和pc，還可以根據(jù)客戶的需求進行定制，如自動放置sample的自動機械手。μsprint軟件提供多種掃描和數(shù)據(jù)分析的功能。通過共聚焦顯微鏡相結(jié)合的μsprint專利原理，真正的3d信息與史無前列的測量速度和記錄分析的高準(zhǔn)確性。μsprint多通道3d傳感器, 采集數(shù)據(jù)的預(yù)處理，同時每個通道實時監(jiān)測到的峰高度并保存測量的峰值強度，因為它代表了表面反射率。從所有途徑獲取的數(shù)據(jù)由多通道μsprint的傳感器每秒運作8000次，它的運作類似于線檢查相機。正因為傳感器的高采樣率，可以以高速移動的物體或傳感器，從而可以在很短的時間內(nèi)進行大面積掃描。所有采集的高度和強度數(shù)據(jù)被合并成一個3d地形圖像和強度圖像。
更新時間:2025-06-25
Lyncee Tec 時間分辨動態(tài)輪廓儀
數(shù)字全息顯微鏡 (dhm®) 為靜態(tài)三維形貌測量提供干涉測量級的亞納米分辨率。與此同時，得益于獨特的非掃描全息技術(shù)，dhm®的圖像抓取速率極短，最快可達(dá)1毫秒，這一 的4d測量能力為眾多領(lǐng)域打開了廣闊的應(yīng)用空間。
更新時間:2025-06-25
usurf explorer光學(xué)輪廓儀
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。
更新時間:2025-06-25
usurf custom光學(xué)輪廓儀
usurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。
更新時間:2025-06-25
激光掃描輪廓儀
輪廓儀 μscan系列機臺采用模塊化設(shè)計，特點是快速測量、不接觸、不破壞、自動化。主要應(yīng)用于材料表面的三維輪廓測量，粗糙度測量，寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析。能直接測量較大面積的樣品，而不用通過拼接。μscan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器(z方向測量)連用，如confocal point sensor(cf)、autofocus sensor(af)、chromatic white light sensor(cla)、holographic sensor(cp)等。目前主配的是連接cf4激光共聚焦傳感器。cf4激光共聚焦傳感器內(nèi)，被照亮的小孔成像在被測量的表面，激光光束經(jīng)由物鏡迅速上下移動聚焦于待測物上，只有當(dāng)焦平面和真實表面的點配對的時候，探測器才記錄到一個表面信號。因此物鏡得通過小的垂直步位移動，使信號通過位移傳感器的位置移動被測出。根據(jù)特殊的內(nèi)插技術(shù)，該系統(tǒng)的精度能達(dá)到10nm以下。
更新時間:2025-06-25
μsurf basic光學(xué)輪廓儀
μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3d立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。
更新時間:2025-06-25

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