涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
濟(jì)寧祥和時(shí)代檢測(cè)儀器有限公司生產(chǎn)涂鍍層測(cè)厚儀 ： ● 無(wú)損測(cè)量金屬、塑料、玻璃等材料上的涂層厚度，測(cè)量快速精確。 ● 堅(jiān)固的防靜電、防火金屬外殼。 ● 適合實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)使用。
更新時(shí)間:2025-07-04
濟(jì)寧祥和時(shí)代檢測(cè)儀器有限公司專業(yè)生產(chǎn)銷售mc-2000a涂鍍層測(cè)厚儀
更新時(shí)間:2025-07-04
xhm-600c型涂層測(cè)厚儀（鍍層測(cè)厚儀）測(cè)量范圍：0～5000μm，本儀器是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類儀器的先進(jìn)水平。
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覆層測(cè)厚儀、涂層測(cè)厚儀210采用磁性測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。
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涂層測(cè)厚儀、覆層測(cè)厚儀211采用電渦流測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
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涂層測(cè)厚儀220是采用磁性測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等）的儀器。
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涂層測(cè)厚儀221是采用電渦流測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)的儀器。
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涂層測(cè)厚儀222采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)的儀器,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
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涂層測(cè)厚儀242采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)。以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)
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elcometer126 & 3240干、濕膜測(cè)厚儀容易操作，是設(shè)計(jì)用于測(cè)量涂層厚度的。
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elcometer141 p.i.g涂層檢測(cè)儀提供快速通用的方法，檢查和測(cè)量涂層厚度。易攜式、使用方便。它的設(shè)計(jì)符合人類工程學(xué)要求，重量分配均衡，能使切割更加穩(wěn)定。•大且易握的手柄--容易切割厚或硬的涂層。 •內(nèi)部有道具的存放格。 •50倍放大顯微鏡。 •英制與公制刻度。 •可轉(zhuǎn)變?yōu)閑lcometer107十字切割器
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•儀器集成了探頭，便于操作•出色的重復(fù)精度•受基材透磁率、電導(dǎo)率和幾何形狀（曲率和厚度等）影響小•享有專利的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)（電渦流方法）•快速的單手操作：將儀器放置于工件上即可看到測(cè)量讀數(shù)•兩個(gè)背光液晶顯示屏，便于從各個(gè)角度讀取測(cè)量值，甚至可從儀器頂部讀取
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xrf電鍍層膜厚儀 開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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鍍層厚度測(cè)試分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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天瑞儀器thick800a 注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞
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x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
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國(guó)產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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國(guó)產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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國(guó)產(chǎn)x鍍層測(cè)厚儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
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天瑞儀器光譜儀thick800a 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
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電鍍滾鍍廠測(cè)厚儀：thick800a測(cè)定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測(cè)試時(shí)間：40s第三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
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x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
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電鍍層測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
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任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。銅鍍鎳鍍鋅測(cè)厚膜厚儀相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
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多元素復(fù)合鍍層測(cè)試儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
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thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
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thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
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鍍層膜厚測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
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電鍍層x射線光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
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五金配件鈦合金檢測(cè)儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降
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pcb多電鍍鍍層測(cè)厚儀 針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
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x射線鍍層膜厚測(cè)厚儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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鍍層分析光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
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設(shè)計(jì)特點(diǎn)天瑞edxrf金屬鍍層厚度測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
更新時(shí)間:2025-07-04
設(shè)計(jì)特點(diǎn)天瑞edxrf金屬鍍層厚度測(cè)厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù)所研發(fā)的一款鍍層膜厚儀。
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天瑞x射線熒光膜厚儀對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無(wú)損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡(jiǎn)單便捷、低廉的售后服務(wù)保證
更新時(shí)間:2025-07-04
天瑞x射線熒光膜厚儀對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無(wú)損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡(jiǎn)單便捷、低廉的售后服務(wù)保證
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天瑞膜厚檢測(cè)儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司著重研發(fā)并生產(chǎn)、銷售天瑞儀器鎳鈀金鍍層厚度測(cè)厚儀。采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
更新時(shí)間:2025-07-04
天瑞膜厚測(cè)量?jī)x滿足不同需求：測(cè)試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種優(yōu)質(zhì)的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
更新時(shí)間:2025-07-04
江蘇天瑞膜厚儀應(yīng)用優(yōu)勢(shì)：針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析達(dá)到5層25種元素鍍層；通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；
更新時(shí)間:2025-07-04
雙激光定位裝置。鉛玻璃pingbi罩。鍍金x熒光鍍層測(cè)厚儀廠家上市公司應(yīng)用領(lǐng)域黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
更新時(shí)間:2025-07-04
磁性測(cè)厚儀能測(cè)鍍金料元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可xuanze的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2025-07-04
儀器尺寸：690（w）x 575（d）x 660（h）mm樣品室尺寸：520（w）x 395（d）x150（h）mm樣品臺(tái)尺寸：393(w)x 258 (d）mmx/y/z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/sx/y/z平臺(tái)重復(fù)定位 ：小于0.1um深圳x射線測(cè)厚儀操作環(huán)境濕度：≤90%操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
更新時(shí)間:2025-07-04
通過(guò)軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；x射線測(cè)厚儀 鍍鋅配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測(cè)樣品狀態(tài)；高度激光敏感性傳感器保護(hù)測(cè)試窗口不被樣品撞擊。
更新時(shí)間:2025-07-04
供應(yīng)x射線測(cè)厚儀廠家滿足不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求移動(dòng)平臺(tái)可測(cè)試點(diǎn)
更新時(shí)間:2025-07-04
x射線熒光納米測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域?qū)I(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行檢測(cè)？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
更新時(shí)間:2025-07-04
鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2025-07-04
鍍層膜厚分析儀注意事項(xiàng)開(kāi)啟儀器電源開(kāi)關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過(guò)猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2025-07-04
標(biāo)準(zhǔn)配置鍍層厚度分析儀開(kāi)放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。鍍層膜厚分析儀高低壓電源。
更新時(shí)間:2025-07-04
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