其他產(chǎn)品及廠家
動態(tài)體能評估系統(tǒng)t280s是一款集動態(tài)體能評估、體適能評估、運動數(shù)據(jù)統(tǒng)計、運動健康分析、智能訓(xùn)練指導(dǎo)為一體的評估系統(tǒng)。系統(tǒng)通過穿戴式傳感器進(jìn)行動作數(shù)據(jù)采集，對8個或以上特定動作的動態(tài)測試，采集身體運動參數(shù)，遠(yuǎn)程無線數(shù)據(jù)傳輸，與交互平臺配合分析人體的重心運動軌跡及人體的運動姿態(tài)，自動進(jìn)行分析并生成測試報告和出具訓(xùn)練建議。
更新時間:2025-07-04
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-07-04
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實數(shù)據(jù)，通過獨有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項目。
更新時間:2025-07-04
鞋墊機(jī)器 足型檢測儀 鞋墊定制3d設(shè)備 c1同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是國際的高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，根據(jù)分析數(shù)據(jù)，了解用戶的足部現(xiàn)狀，并作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-07-04
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-07-04
carebo-810采用國際先進(jìn)的多頻率生物電阻抗技術(shù)進(jìn)行人體成分準(zhǔn)確分析，監(jiān)測體脂和肌肉的變化及分析人體成分變化，回歸數(shù)據(jù)本身，呈現(xiàn)身體的真實數(shù)據(jù)，通過獨有的準(zhǔn)確測量技術(shù)和wifi通信模塊等，向用戶提供更多豐富的服務(wù)項目。
更新時間:2025-07-04
全自動鞋墊機(jī)s1足墊定制系統(tǒng)同時具備足底壓力分析、體態(tài)評估和足墊定制三大功能。系統(tǒng)采用的是高精度足底壓力分析技術(shù)，對用戶的足弓、足態(tài)進(jìn)行分析與評估，作出針對性足墊解決方案。
更新時間:2025-07-04
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-07-04
足底壓力測試儀采用48hv矩陣傳感器（傳感器數(shù)量2304個），以生物力學(xué)為基礎(chǔ)，準(zhǔn)確采集足底壓力分布數(shù)據(jù)，能夠根據(jù)性別、年齡、身高進(jìn)行5個等的評估，對足部壓力，足部畸形問題進(jìn)行有效分析，提供針對性解決方案。
更新時間:2025-07-04
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-07-04
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-07-04
mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
更新時間:2025-07-04
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中，這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道，包括同時測量每條通道的眼圖。
更新時間:2025-07-04
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
更新時間:2025-07-04
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
更新時間:2025-07-04
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
更新時間:2025-07-04
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
更新時間:2025-07-04
mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
更新時間:2025-07-04
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序：
更新時間:2025-07-04
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯誤，可以檢查2-bit的錯誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯模式中支持。
更新時間:2025-07-04
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯的時候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會產(chǎn)生
更新時間:2025-07-04
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個data,依次，p3是個data.
更新時間:2025-07-04
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時間:2025-07-04
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實會變差，這個當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來說，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會變好，這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時間:2025-07-04
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時間:2025-07-04
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-07-04
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-07-04
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-07-04
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-07-04
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-07-04
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-07-04
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-07-04
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時間:2025-07-04
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-07-04
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-07-04
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-07-04
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2025-07-04
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-07-04
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-07-04
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-07-04
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-07-04
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-07-04
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-07-04
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-07-04
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-07-04
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-07-04
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-07-04
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-07-04
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-07-04
最新產(chǎn)品
- 4G/GPS/北斗定位智能巡檢安全帽建筑工地/定位安全帽 2025/7/4 16:44:33
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- 組串式測試電源 2025/7/4 16:39:41
- 組串電源 2025/7/4 16:39:10
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- 圓環(huán)法界面張力測定儀 2025/7/4 16:10:43
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