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流動(dòng)測(cè)震儀
bc302流動(dòng)測(cè)震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測(cè)儀器,具有振動(dòng)測(cè)量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測(cè)和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測(cè)震儀振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測(cè)量,測(cè)量準(zhǔn)確測(cè)量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測(cè)量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能測(cè)厚終端。本儀器具備無線通信功能;可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測(cè),儀器內(nèi)置“科信”云平臺(tái)可以把測(cè)量的數(shù)據(jù)/視頻分享給科信工友,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程實(shí)時(shí)協(xié)同作業(yè),機(jī)殼采用防水、防塵、防摔的設(shè)計(jì)可以適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)。
更新時(shí)間:2025-07-03
分體式單探頭涂層測(cè)厚儀
涂(鍍)層測(cè)厚儀是一款基于安卓系統(tǒng)的智能涂(鍍)層厚度檢測(cè)終端。本儀器具備無線通信功能,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程音頻、視頻數(shù)據(jù)的交互;本儀器可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)專家診斷、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)檢測(cè)等功能;本儀器機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的三防設(shè)計(jì),可以適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)。
更新時(shí)間:2025-07-03
黑白透射密度計(jì)
kodin-h600a配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計(jì)。該款密度計(jì)內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時(shí)可供連續(xù)工作4小時(shí)以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時(shí)可連續(xù)工作24小時(shí)以上。該款密度計(jì)是科電公司通過大量試驗(yàn),研制的一款高精密儀器。該款密度計(jì)具有體積小、重量輕、操作簡(jiǎn)單、攜帶方便、測(cè)量準(zhǔn)確度高、長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
LED工業(yè)射線底片觀片燈
kodin g2000c型 led工業(yè)射線底片觀片燈適用于工業(yè)射線照相底片的觀察。
更新時(shí)間:2025-07-03
 回波-回波超聲波測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀hch-30000e/e可有效穿透涂層對(duì)基體進(jìn)行測(cè)厚,該款儀器是科電公司經(jīng)過半年的努力自主研發(fā)推出的新品。hch-3000e/e采用了單片機(jī)與cpld綜合系統(tǒng)的技術(shù),集發(fā)射-回波模式與回波-回波模式于一身的智能型超聲波測(cè)厚儀。它具有輕便且符合人體工程學(xué)的單手操作設(shè)計(jì),為許多需要對(duì)疑為帶有涂層的金屬壁變薄的材料所進(jìn)行的快速檢測(cè)應(yīng)用,提供了性價(jià)比極高的測(cè)量解決方案。
更新時(shí)間:2025-07-03
單晶超聲波測(cè)厚儀
kodin-3000hmc是一款高精度智能型超聲波測(cè)厚儀,它采用的高速數(shù)據(jù)采集技術(shù),具有a掃,b掃,數(shù)值模式和usb通信等功能于一身。增益實(shí)時(shí)可調(diào),適用于檢測(cè)比較薄的鋼板,滅火器等厚度測(cè)量
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式測(cè)振儀
.kv-3000a測(cè)振儀是用于現(xiàn)場(chǎng)機(jī)械振動(dòng)測(cè)量與分析應(yīng)用的便攜式測(cè)振儀。它運(yùn)用快速傅里葉變換(fft),將時(shí)域信號(hào)變換為頻域信號(hào)進(jìn)行分析,能快速判定故障原因與位置。
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波探傷儀
6a-ut智聯(lián)型超聲波探傷儀是科電儀器基于安卓系統(tǒng)研發(fā)的智能探傷終端。本儀器具備無線通信功能,可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程交互和云檢測(cè);ips高清彩屏的觸控和實(shí)體按鍵相結(jié)合,讓人機(jī)交互更方便;可提供專業(yè)化的量身定制服務(wù),無線升級(jí)更高效;機(jī)殼采用防水、防塵、防摔設(shè)計(jì),可適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式黑白透射密度計(jì)
kodin-h600配備了進(jìn)口光電傳感器的便攜式黑白透射密度計(jì)。該款密度計(jì)內(nèi)部配有大容量li-ion鋰離子電池。充滿一次電,在打開觀片區(qū)光源時(shí)可供連續(xù)工作4小時(shí)以上,在關(guān)閉觀片區(qū)光源時(shí)可連續(xù)工作24小時(shí)以上。該款密度計(jì)是科電公司通過大量試驗(yàn),研制的一款高精密儀器。該款密度計(jì)具有體積小、重量輕、操作簡(jiǎn)單、攜帶方便、測(cè)量準(zhǔn)確度高、長(zhǎng)期穩(wěn)定性好等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2025-07-03
濕海綿針孔檢漏儀
sj-6濕海綿針孔檢漏儀是一款多檔位的檢漏儀,它應(yīng)用濕海綿測(cè)試技術(shù),用于測(cè)量導(dǎo)電基體上500微米以下的絕緣涂層的針孔、縫隙、破損等缺陷。
更新時(shí)間:2025-07-03
超聲波測(cè)厚儀
kodin 3a-hc超聲波測(cè)厚儀是科電儀器基于互聯(lián)網(wǎng)技術(shù)傾力打造的智能檢測(cè)終端。本儀器具備無線通信功能;融入了工業(yè)設(shè)計(jì)理念,機(jī)殼設(shè)計(jì)遵循了人體工程學(xué)貼合了工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)的操作習(xí)慣,機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的設(shè)計(jì)可以適應(yīng)各種復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)。
更新時(shí)間:2025-07-03
涂層測(cè)厚儀
kodin 3a-mc涂(鍍)層測(cè)厚儀是一款基于安卓系統(tǒng)的智能涂(鍍)層厚度檢測(cè)終端。本儀器具備無線通信功能,可以實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程音頻、視頻數(shù)據(jù)的交互;本儀器可以實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)專家診斷、遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)檢測(cè)等功能;本儀器機(jī)殼防護(hù)采用了防水、防塵、防摔的三防設(shè)計(jì),可以適應(yīng)復(fù)雜的工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)。
更新時(shí)間:2025-07-03
管道防腐層檢漏儀
kodin 9b-fm/s150管道防腐層檢漏儀采用多頻管中電流衰減法(pcm)和交流電位梯度法(acvg)檢測(cè)技術(shù),可以完成長(zhǎng)輸油氣管線的路由定位和深度測(cè)量、精確定位、破損點(diǎn)檢測(cè)定位、外防腐層老化狀況的定量評(píng)估、診斷陰極保護(hù)系統(tǒng)故障、各類新鋪設(shè)管道的防腐層施工質(zhì)量驗(yàn)收等工作。
更新時(shí)間:2025-07-03
電火花檢漏儀
kodin-6dj-30型電火花檢漏儀是一款脈沖高壓儀器,采用高抗干擾芯片、干擾液晶屏幕和數(shù)字化控制電路,使儀器高壓輸出更±(0.1kv+3%讀數(shù))、可以根據(jù)防腐涂層的材料和厚度自動(dòng)輸出合適的測(cè)量電壓、菜單操作更加智能化人性化。
更新時(shí)間:2025-07-03
土工膜泄漏檢測(cè)儀
土工膜泄漏檢測(cè)儀適用于垃圾填埋場(chǎng)滲漏破損檢測(cè)、尾礦庫(kù)壩體滲漏破損檢測(cè)、景觀湖滲漏破損檢測(cè)、水產(chǎn)養(yǎng)殖池滲漏破損檢測(cè)、污水存儲(chǔ)池滲漏破損檢測(cè)等施工防漏檢測(cè).
更新時(shí)間:2025-07-03
LED工業(yè)射線底片觀片燈
kodin g2000a型 led工業(yè)射線底片觀片燈適用于工業(yè)射線照相底片的觀察。
更新時(shí)間:2025-07-03
便攜式智能里氏硬度計(jì)
1.圖表模式,可以查看工件的每個(gè)測(cè)量點(diǎn)硬度大小,把數(shù)據(jù)分析和硬度波動(dòng)分布圖集于一體,工件硬度大小一目了然。2.報(bào)告模式,把測(cè)量工件的名稱、圖片、數(shù)據(jù)、測(cè)量設(shè)置信息、日期等信息以報(bào)告的形式實(shí)時(shí)分析,并可以分享給異地的合作伙伴。3.視頻通話模式,異地的測(cè)量過程通過視頻或者音頻的方式實(shí)時(shí)交互,可以令監(jiān)控中心的管理人員進(jìn)行遠(yuǎn)程管理、同步交流、專家診斷。
更新時(shí)間:2025-07-03
個(gè)人劑量報(bào)警儀
ray-3000a 射線報(bào)警儀是一款智能小型輻射監(jiān)測(cè)儀器,主要用于監(jiān)測(cè) x射線和γ射線,該儀器功耗低、靈敏度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、體積小,可以佩戴也適合放入口袋。同時(shí)采用新型單片機(jī)技術(shù),具有超強(qiáng)的抗干擾能力,可在較惡劣環(huán)境下工作 。
更新時(shí)間:2025-07-03
ETS-LINDGREN近場(chǎng)探頭,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場(chǎng)探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-03
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測(cè)試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-03
梅特勒電極(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣)
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120(有問題,產(chǎn)品上留有碎渣) 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測(cè)試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測(cè)試
cie2.0 3.0 物理層致性測(cè)試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測(cè)試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處,但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中,數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生,然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer),終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測(cè)試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài),主電源已經(jīng)停止供電時(shí),pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求,使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-07-03
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測(cè)試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定,懷疑以下原因:- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-07-03
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉,它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程,在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來,集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平,更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能,當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-07-03
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie2.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試在個(gè)處理器系統(tǒng)中,般提供×16的pcie插槽,并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào),其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路,另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn),也即隨著信號(hào)幅度越來越低,對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制,比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù),由于采用 4 電平調(diào)制,其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求,個(gè)是type00h配置請(qǐng)求,另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie1.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代,工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車,每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律,也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x4 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí),工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x8 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-07-03
Pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層一致性測(cè)試
pcie3.0x16 眼圖測(cè)試 物理層致性測(cè)試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測(cè)試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測(cè)試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-07-03
fixturlaser飛翔AT-100激光對(duì)中儀瑞典AT-100現(xiàn)貨原裝
fixturlaser飛翔at-100激光對(duì)中儀瑞典at-100現(xiàn)貨原裝,瑞典at-100無線激光對(duì)中儀---一款基于智能應(yīng)用app程序的無線藍(lán)牙軸對(duì)中解決方案提供者!在a-100激光對(duì)中儀-智能門軸對(duì)中校準(zhǔn)工具,易于使用和負(fù)擔(dān)得起的同時(shí),at-100軸對(duì)中解決方案是近40年軸對(duì)中***知識(shí)和***的結(jié)果
更新時(shí)間:2025-07-03
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-07-03
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-07-03
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測(cè)試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-07-03
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-07-03
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測(cè)試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
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MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測(cè)試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
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MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
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MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
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硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
更新時(shí)間:2025-07-03
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-07-03
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-07-03
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
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