日日夜夜精品,视频,全球av导航,,欧美videosdesexo,欧美日韩国产综合草草,人人妻人人澡人人爽人人精品浪潮

其他產(chǎn)品及廠家

磨床永磁吸盤廠家直銷保修一年
各規(guī)格型號(hào)磁盤:電磁吸盤,加工中心強(qiáng)力吸盤,磨床永磁吸盤,雕刻機(jī)細(xì)目永磁 吸盤,火花機(jī)磁盤,線切割磁盤,磨刀機(jī)專業(yè)磁盤,一體正弦臺(tái),彎弓正弦臺(tái),雙傾正弦臺(tái),旋轉(zhuǎn)磁臺(tái),直角磁臺(tái),圓形吸盤,紅銅.黃銅永磁吸盤,雙面永磁吸盤,導(dǎo)磁塊等……機(jī)床精密配件.定做非標(biāo)吸盤
更新時(shí)間:2025-07-02
日本NIKON高度計(jì)
日本 nikon高度計(jì):加高型精密高度計(jì),量程小于等于100mm的產(chǎn)品高度、厚度與深度測量。日本nikon高度計(jì):流水生產(chǎn)線可以每線一臺(tái),高精度高效測量,是高精度產(chǎn)品生產(chǎn)企業(yè)最佳選擇。日本nikon高度計(jì):選配特殊測針,可完成小深孔,盲孔測量,這是三坐標(biāo),影像儀,投影儀與顯微鏡無法代替的特點(diǎn),特制測頭還可測
更新時(shí)間:2025-07-02
JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題
mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個(gè)測量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
更新時(shí)間:2025-07-02
硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
更新時(shí)間:2025-07-02
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試 分析與解決方法
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表,sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過的,使用這種方法,編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤,可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中,僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2025-07-02
分析與解決方法 MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí),eof中斷就產(chǎn)生了,eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用,該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2025-07-02
解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程 MIPI接口屏閃屏的測試
解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程 mipi接口屏閃屏的測試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0,表示系統(tǒng)是小端,不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容,p0是個(gè)data,依次,p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題
mipi clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660,輸出設(shè)定為yuv模式,因此,csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù),因此還需要通過軟件,將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI C-PHY D-PHY 眼圖測試 MIPI屏 初始化指令問題
mipi c-phy d-phy 眼圖測試 mipi屏 初始化指令問題像素可以放映到你的抓圖上面的大小,該像素就是說明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少,可以想象在相同的面積上,數(shù)量越多,感光元件肯定要越小,感光元件小,那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差,這個(gè)當(dāng)然可以理解,但是從大的方面來說,只要鏡頭好,光源充足,那么效果也會(huì)變好,這樣畫面就比像素低的更加的細(xì)膩,所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2025-07-02
MIPI眼圖 數(shù)據(jù) CLK眼圖 DATA眼圖測試與分析 解決MIPI屏黑屏問題 MIPI調(diào)試過程
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測試與分析 解決mipi屏黑屏問題 mipi調(diào)試過程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口,可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
更新時(shí)間:2025-07-02
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 Emmc5 上電時(shí)序測試
相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
更新時(shí)間:2025-07-02
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
更新時(shí)間:2025-07-02
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
更新時(shí)間:2025-07-02
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時(shí)間:2025-07-02
控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測到該信號(hào),并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-07-02
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 Emmc5 上電時(shí)序測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測到該信號(hào),并開始接收 response。
更新時(shí)間:2025-07-02
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時(shí)間:2025-07-02
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
更新時(shí)間:2025-07-02
復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時(shí)序測試
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí),焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上,整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-07-02
Emmc5 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-07-02
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-07-02
ETS-LINDGREN近場探頭,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-02
Nemtest dito靜電放電模擬器,硬件測試,開放實(shí)驗(yàn)室,DDR測試,時(shí)序測試,紋波測試,抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-07-02
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常,memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-07-02
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同,pcie總線使用端到端的連接方式,在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備,這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成,目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路,還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-07-02
高壓漏電檢測儀
hcld-3系列高壓耐漏電起痕試驗(yàn)儀采用西門子plc作為主控制系統(tǒng),配合高精度電壓、電流傳感器、高壓真空斷路開關(guān)、高壓交直流變壓器元件構(gòu)成。高壓耐漏電起痕試驗(yàn)是在工頻下,用液體污染和傾斜試樣評定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料耐漏電起痕和耐電蝕損性能。其評定的方法有兩種,即恒定漏電起痕電壓法和逐升壓漏電起痕電壓法。試驗(yàn)中可采用兩種終點(diǎn)判斷法來確定試驗(yàn)終點(diǎn)。方法a是當(dāng)高壓回路中通過的電流達(dá)到或超
更新時(shí)間:2025-07-02
流動(dòng)測震儀
bc302流動(dòng)測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測儀器,具有振動(dòng)測量和評價(jià)、軸承狀態(tài)檢測和評價(jià)功能。流動(dòng)測震儀振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量,應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2025-07-02
金屬導(dǎo)體電阻率測試儀
加工定制:是類型:指針式電阻測量儀表品牌:yaos堯順型號(hào):dx200ghd測量范圍:10-5--105ω(mω)電 源:220±10%測試電壓:2 mv、20 mv、200 mv、2v(v)精度:0.1%重量:8.5(kg)尺 寸:345mm*480mm*145mm規(guī)格:φ30x180
更新時(shí)間:2025-07-02
漏水探測儀高靈敏智能型
jt-1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路,高保真高降噪信號(hào)顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時(shí)間:2025-07-02
漏水探測儀數(shù)字濾波型
jt-5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路,,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實(shí)時(shí)漏水靈音,高靈敏主動(dòng)式傳感器,光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時(shí)間:2025-07-02
手持式地下管道漏水檢測儀
jt-sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜,手持即可檢測,可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏,包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時(shí)間:2025-07-02
管道泄漏檢測儀/漏水檢測儀/測漏儀/漏水探測儀
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術(shù)、現(xiàn)代音頻信號(hào)處理技術(shù)、嵌入式微處理器技術(shù)、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術(shù)等當(dāng)先進(jìn)技術(shù),其聽音效果清晰、適合復(fù)雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定,是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進(jìn)測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動(dòng)信號(hào)來準(zhǔn)確定位泄漏點(diǎn)的位置。
更新時(shí)間:2025-07-02
供應(yīng)智能型地下管線泄漏探測儀/管道漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-1a地下管道泄漏檢測儀,是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器,擁有超強(qiáng)的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力,輸出泄漏信號(hào)清晰靈敏,操作界面目了然,可以使您的工作更加輕松,它具有以下主要特點(diǎn):微處理器數(shù)字經(jīng)線路,高保真高降噪信號(hào)顯示,耳感逼真,清晰度高,高靈敏度傳感器,大容量充電鋰電池,輕量微型化機(jī)身。
更新時(shí)間:2025-07-02
供應(yīng)地下管道泄漏檢測儀/手持式管道漏水檢測儀/手持式管道測漏儀/檢漏儀/查漏儀/聽漏儀
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點(diǎn)是小巧便攜,手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當(dāng)某處破損泄漏時(shí),壓力水油氣從管道破損處向處噴射,與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動(dòng)會(huì)引起噴注噪聲,這種聲音隨管道向兩側(cè)和埋設(shè)地面上方路面?zhèn)鞑,此時(shí)用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號(hào),通過主機(jī)進(jìn)行放大顯示,并有選擇的過濾噪音,獨(dú)立出泄漏聲波,使操作者找到泄漏源
更新時(shí)間:2025-07-02
供應(yīng)數(shù)字濾波漏水檢測儀/測漏儀/檢漏儀/聽漏儀/查漏儀
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路,在復(fù)雜的環(huán)境中亦可探測漏水,大屏液晶,小值顯示,實(shí)時(shí)漏水錄音,高靈敏主動(dòng)式傳感器,光電無觸點(diǎn)手柄開關(guān),大容量鋰離子充電電池。
更新時(shí)間:2025-07-02

最新產(chǎn)品

熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑