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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
NS550H臺式光學(xué)透過率測試儀
ns550h臺式光學(xué)透過率測試儀測試原理是采用紫外光源,紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強,透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市納森科技有限公司
NS15A便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm~760nm)測量儀,測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測三路光源的入射光強和透過被測透明物質(zhì)后的光強,透過光強與入射光強的比值即為透過率,用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市納森科技有限公司
NS-500中空玻璃空氣層厚度測量儀
ns500中空玻璃空氣層厚度測量儀測試原理是利用光學(xué)反射原理,可在玻璃的單側(cè)表面測量玻璃厚度,尤其適用于通用測量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的測量場合,如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃(中空玻璃)窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量,還可以同時獲得兩層玻璃及中間空氣層的厚度。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市納森精密儀器有限公司
HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率X射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測器(標(biāo)配)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達(dá)2,000,000個粒子/ft.
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
F20,F(xiàn)30,F(xiàn)40,F(xiàn)50,F(xiàn)60,F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
FTIR德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ContoruGT德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ALD德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Zip 250美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進口工業(yè)機芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
WCT-120,Suns-Voc美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測試系統(tǒng),采用了獨特的測量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法?伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Contour X布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Contour X-200布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DektakXT布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41B日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-19F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計,便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div>
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-24日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42C日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-20F日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f,檢測粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個通道
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-01E日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-03B日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DSC 300德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
LFA 467 HyperFlash德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動進樣器,高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計獨特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JTA-JUTI-X自動在線光學(xué)檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個位置,但有三個位子是主要的:1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后,這是個典型的放置位置,因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的,如錫膏量不足可能會導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊,將檢測設(shè)備放置于貼片后
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市鑫鴻基設(shè)備有限公司
ch-01陶瓷插芯測孔儀,光纖陶瓷插芯測孔儀,陶瓷插芯同心度測量儀
測量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑,外圓直徑,圓度,內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
CHG-1000拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來,解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
共3107條
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小鼠過氧化物酶體增殖物激活受體α(PPARα)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
2025/7/7 1:40:35
小鼠蛋白二硫化物異構(gòu)酶A6(PDIA6)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠淀粉樣蛋白β前體樣蛋白2(APLP2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠甲基多巴1β(MEP1β)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠堿性成纖維細(xì)胞生長因子(FGF2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠過氧化還原酶4(PRDX4)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠ISLLIM同源框蛋白1(ISL1)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠胰島素樣生長因子結(jié)合蛋白6(IGFBP6)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞周期素B2(CCNB2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞分裂周期因子25(CDC25)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠ATP結(jié)合盒轉(zhuǎn)運蛋白C9(ABCC9)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠補體成分4d(C4d)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞外基質(zhì)金屬蛋白酶誘導(dǎo)因子(EMMPRIN)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠過氧化物酶體生物合成因子2(PEX2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠胱天蛋白酶9(CASP9)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠過氧化氫酶(CAT)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞程序性死亡蛋白1配體2(PDCD1LG2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠蛋白L-異天冬氨酸-O-甲基轉(zhuǎn)移酶(PCMT1)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠磷脂酶A1(PLA1)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠羧肽酶Z(CPZ)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠肉毒堿棕櫚;D(zhuǎn)移酶2(CPT2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒96T
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小鼠內(nèi)臟脂肪特異性絲氨酸蛋白酶抑制因子(Vaspin)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠蛋白激酶Bα(PKBα)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞周期素D2(CCND2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠肉毒堿棕櫚酰基轉(zhuǎn)移酶1B(CPT1B)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠外核苷酸焦磷酸酶/磷酸二酯酶2(ENPP2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠窖蛋白2(CAV2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠細(xì)胞程序性死亡蛋白1(PDCD1)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠胰島素樣生長因子酸不穩(wěn)定亞基(IGFALS)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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小鼠甲硫氨酰氨肽酶2(METAP2)酶聯(lián)免疫吸附測定試劑盒
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