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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家
HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率X射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測器(標(biāo)配)
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機(jī)型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
SV-1A日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達(dá)2,000,000個粒子/ft.
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
F20,F(xiàn)30,F(xiàn)40,F(xiàn)50,F(xiàn)60,F(xiàn)3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
FTIR德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ContoruGT德Bruker光學(xué)輪廓儀
德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
ALD德國Sentech 實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Zip 250美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀
100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機(jī)芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強(qiáng)磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
WCT-120,Suns-Voc美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測試系統(tǒng),采用了獨特的測量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法?伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Contour X布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Contour X-200布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DektakXT布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41B日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-19F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TESA 2000美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學(xué)設(shè)計,便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div>
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-16,KS-16F日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數(shù)濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-17B日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數(shù)濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-19F日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-24日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體?蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-41A日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個通道,出廠默認(rèn)):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-05
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-18F日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-42C日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KS-20F日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f,檢測粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個通道
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-01E日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
KC-03B日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
DSC 300德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
LFA 467 HyperFlash德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動進(jìn)樣器,高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計獨特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
TFXRD-300/200日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質(zhì)量管理,可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統(tǒng)
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
JTA-JUTI-X自動在線光學(xué)檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設(shè)備JTA-JUTI-X
aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個位置,但有三個位子是主要的:1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機(jī)之后,這是個典型的放置位置,因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的,如錫膏量不足可能會導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊,將檢測設(shè)備放置于貼片后
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
深圳市鑫鴻基設(shè)備有限公司
ch-01陶瓷插芯測孔儀,光纖陶瓷插芯測孔儀,陶瓷插芯同心度測量儀
測量陶瓷插芯的內(nèi)孔孔徑,外圓直徑,圓度,內(nèi)外圓同心度。陶瓷插芯的圓柱的直線度,平行度
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
CHG-1000拉絲模具檢查儀,拉絲模檢測儀,拉絲模缺陷檢查,拉絲模缺陷分析
觀察拉絲模具定徑區(qū)和壓縮區(qū),出口區(qū)的缺陷及光潔度。本產(chǎn)品改變了傳統(tǒng)用顯微鏡觀察的方式,把要觀察的部位以影像的方式呈現(xiàn)出來,解決視力疲勞問題,方便溝通和顯微鏡使用方法一樣,只是觀察方式的改變。專用模具支架,方便使用。適用于各種類型,各種孔徑的拉絲模具。
更新時間:
2025-07-05
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上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
CHD-200端子檢測顯微鏡,端子測量顯微鏡,端子分析顯微鏡
端子分析儀chd-200是針對線束行業(yè)品質(zhì)檢驗而專門研發(fā)的一款精密檢測分析設(shè)備,整套系統(tǒng)由端子切割設(shè)備、研磨設(shè)備、腐蝕清洗、斷面圖像采集系統(tǒng)、線束端子圖片測量分析系統(tǒng)等單元組成,采用人體力學(xué)設(shè)計,模塊化組合,流水線式工作流程,讓操作更方便、快捷。全套檢測系統(tǒng)可在5分鐘內(nèi)完成一個端子的處理分析,極大地提高了端子斷面品質(zhì)檢驗的速度。簡易的操作、高品質(zhì)的圖像采集系統(tǒng)、精確的測量分析為您的生產(chǎn)保駕護(hù)航
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
CHL-200拉絲模具測量儀
拉絲模具測孔儀對拉絲模孔徑.孔型進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀對異型孔也可以進(jìn)行測量.拉絲模具測孔儀也可以對孔型及表面光潔度進(jìn)行觀察.拉絲模具測孔儀操作簡單.易學(xué).高效.高精度
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
上海創(chuàng)洪實業(yè)有限公司
GR2015不分光紅外CO分析儀
不分光紅外co分析儀是我公司針對公共場所、工作場所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器,儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法(ndir)測量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度,具有測量精度高,使用壽命長,交叉干擾小等優(yōu)點,是環(huán)境監(jiān)測域,職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測域的必備儀器
更新時間:
2025-07-05
該公司產(chǎn)品分類:
青島國瑞力恒環(huán)?萍加邢薰
共3107條
共63頁
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